English

Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi Koreksi Tanpa Batas pikeun Pencitraan Ngaliwatan Silikon & Pemantauan Prosés Laser Serat

Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi anu Dikoreksi Tanpa Batas pikeun Pencitraan Ngaliwatan Silikon & Pemantauan Prosés Laser Serat Gambar Unggulan
  • Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi Koreksi Tanpa Batas pikeun Pencitraan Ngaliwatan Silikon & Pemantauan Prosés Laser Serat
  • Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi Koreksi Tanpa Batas pikeun Pencitraan Ngaliwatan Silikon & Pemantauan Prosés Laser Serat

Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi Koreksi Tanpa Batas pikeun Pencitraan Ngaliwatan Silikon & Pemantauan Prosés Laser Serat

NIR Plan Apo 50X/0.67 nyaéta mikroskop apokromatik rencana anu dikoréksi tanpa wates premium anu dioptimalkeun khusus pikeun aplikasi infrabeureum caket (NIR). Kalayan aperture numerik (NA) 0,67 sareng jarak kerja (WD) 10 mm, éta ngahasilkeun résolusi anu luar biasa (0,5 µm) sareng transmisi NIR anu saé dina rentang anu katingali 380–700 nm ogé panjang gelombang kritis 1064 nm - jantenkeun idéal pikeun pamariksaan sisi tukang wafer silikon, métrologi ngaliwatan silikon (TSV), sareng monitoring real-time tina pamrosésan laser serat.

Spésifikasi konci:

  • Pembesaran: 50X
  • Apertur Numerik (NA): 0.67
  • Jarak Gawé (WD): 10 mm
  • Panjang fokus: 4 mm
  • Résolusi: 0,5 µm
  • Jero lapangan (±DF): 0,75 µm
  • Widang pandang maksimum: 0,5 mm
  • Beurat: 430 g
  • Desain optik: Dikoreksi tanpa wates, apokromat rencana (APO)
  • Panjang gelombang gawé: 380–700 nm & 1064 nm
  • Médium celup: Udara

Rincian Produk

Tag Produk

Aplikasi has:
Inspeksi semikonduktor– Inspeksi wafer tukang, pangukuran TSV (ngaliwatan silikon), ulasan cacad saatos motong laser
Analisis kagagalan– Pencitraan non-destruktif ngaliwatan substrat silikon pikeun mariksa struktur anu dikubur
Pamrosésan laser– Observasi sacara real-time tina ablasi, pangeboran, atanapi pengelasan laser serat 1064 nm dina élmu bahan sareng manufaktur
Metalurgi & élmu bahan– Inspeksi résolusi luhur pikeun zona anu kapangaruhan ku panas laser, lapisan anu dibentuk deui, sareng mikrostruktur
Mikroskopi fluoresensi NIR– Pikeun sampel biologis atanapi bahan anu meryogikeun eksitasi infrabeureum caket
Tujuan Mikroskop


  • Saméméhna:
  • Teras:
    • Tulis pesen anjeun di dieu sareng kirimkeun ka kami

    KATEGORI PRODUK

    Panjang gelombang parantos fokus kana nyayogikeun produk optik presisi tinggi salami 20 taun

    Pencét enter pikeun milarian atanapi ESC pikeun nutup